神戸国際会議場で開催された国際シンポジウム2013 IEEE/SICE International Symposium on System Integration (SII2013)で渡辺さんがRefractive Index & Physical Thickness Distributions Measurement and Consideration of Dependence of Measurement Accuracy on Scanning Interval Using Low-Coherence Digital Holography の口頭発表をおこないました．研究室初の英語口頭発表でしたが，十分な準備をしていたこともあり，無事終えることができました．Good job!