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授業情報/Class Information

科目一覧へ戻る 2024/03/27 現在

基本情報/Basic Information

遠隔授業(授業回数全体の半分以上)の場合は、科目名の先頭に◆が付加されています(2023年度以降)
開講科目名
/Course
材料工学実験C/Experiments in Materials Engineering C
時間割コード
/Course Code
S1407100_S1
開講所属
/Course Offered by
システム工学部/Faculty of Systems Engineering
ターム・学期
/Term・Semester
2024年度/Academic Year  第3クォーター/3Q
曜限
/Day, Period
他/Otr
開講区分
/Semester offered
後期/the latter term
単位数
/Credits
2.0
学年
/Year
3,4
主担当教員
/Main Instructor
尾崎 信彦
科目区分
/Course Group
_ 
授業形態
/Lecture Form
実験
教室
/Classroom
開講形態
/Course Format
ディプロマポリシー情報
/Diploma Policy

担当教員情報/Instructor Information

教員名
/Instructor
教員所属名
/Affiliation
秋元 郁子 システム工学部(教員)
宇野 和行 システム工学部(教員)
山門 英雄/Hideo Yamakado システム工学部(教員)
小田 将人 システム工学部(教員)
尾崎 信彦 システム工学部(教員)
授業の概要・ねらい
/Course Aims
本科目は3年次配属された材料工学メジャーの各研究グループにおいてそれぞれ実施されます。各専門分野に関する既知の法則や実験事実を検証し、それらの理解を深めるとともに、卒業研究に備えて、安全に関する知識および各種実験装置の原理や使用方法を学びます。それまでに学修した内容を、実験を通してより深く理解し専門性を高めるとともに第7-8セメスタで実施される卒業研究に備えます。
到達目標
/Course Objectives
3年次配属された材料工学メジャーの研究グループの専門分野に関連する基本的知識や実験手法を修得し、論理立てて説明することができる。
成績評価の方法・基準
/Grading Policies/Criteria
出席およびレポート100%
注:各研究グループの専門分野に関連する基本的実験手法について修得したことをレポートにまとめます。卒業研究を遂行するに足るレベルまで修得できれば合格です。
教科書
/Textbook
各研究グループで指示します。
参考書・参考文献
/Reference Book
各研究グループで指示します。
履修上の注意 ・メッセージ
/Notice for Students
各研究グループで指示します。
履修する上で必要な事項
/Prerequisite
各研究グループで指示します。
履修を推奨する関連科目
/Related Courses
物理学実験A、B、物理学演習、材料工学実験A、Bの単位を取得していることが望まれる。
授業時間外学修についての指示
/Instructions for studying outside class hours
本科目の授業計画に沿って、準備学修と復習を行ってください。各研究グループで指示する課題やレポート作成などを行ってください。
その他連絡事項
/Other messages
記載事項なし
授業理解を深める方法
/How to deepen your understanding of classes
実験を体験することを通して、研究のためのトレーニングを積み、より発展的な内容を理解できるように、複数領域の総合的な学修を行う。
【「アクティブ・ラーニング」実施要項 ③,⑥,⑦,⑨】
オフィスアワー
/Office Hours
各研究グループの担当教員のオフィスアワーに準ずる。
科目ナンバリング
/Course Numbering
SM0003J11111C395
No. 回(日時)
/Time (date and time)
主題と位置付け(担当)
/Subjects and instructor's position
学習方法と内容
/Methods and contents
備考
/Notes
1 各研究室での安全教育 ・各実験室での安全に関する注意点
・薬品・ガス・電気の安全について
・守るべき事項について
2 各研究室での実験基礎(1) ・電子回路の基礎
・データ処理と誤差の取扱い
・計算の基礎について
・他
3 各研究室での実験基礎(2) ・データ処理と誤差の取扱い
・真空計測器の種類と取扱い
・計算の基礎について
・他
4 各研究室での実験基礎(3) ・結晶構造について
・真空と真空ポンプ
・質量分析器の原理
・他
5 各研究室での実験基礎(4) ・X線構造解析法
・真空度測定
・質量分析器の取扱い
・真空装置の取扱い(ガラスライン)
・他
6 各研究室での実験基礎(5) ・分光器の原理
・ガラス器具の取扱い
・試薬の取扱い(気体、液体)
・他
7 各研究室での実験基礎(6) ・真空蒸着法による薄膜作製
・光検出器
・試薬の取扱い(固体)
・他
8 各研究室での実験基礎(7) ・電着法による薄膜作製
・光スペクトル測定の原理
・分子軌道法(基礎)
・他
9 各研究室での実験基礎(8) ・薄膜の膜厚測定
・光スペクトル測定
・分子軌道法(応用)
・他
10 10 各研究室での実験基礎(9) ・電子顕微鏡による薄膜表面観察
・光学部品の取扱い
・分子軌道法(演習)
・他
11 11 各研究室での実験基礎(10) ・AFMによる薄膜表面観察
・レーザー装置の取扱い
・工作機械の取扱い(旋盤)
・他
12 12 各研究室での実験基礎(11) ・有機薄膜トランジスタの作製
・高圧ガスボンベの取扱い方
・工作機械の取扱い(フライス盤)
・他
13 13 各研究室での実験基礎(12) ・ 有機薄膜トランジスタの移動度評価
・寒剤の取扱い方
・電子機器の取扱い
・他
14 14 各研究室での実験基礎(13) ・固体の比熱について
・ダイオードの理想係数測定評価
・温度計
・導電性結晶作製(拡散法)
・他
15 15 各研究室での実験基礎(14) ・熱伝導
・太陽電池の効率測定評価
・低温測定
・導電性結晶作製(電解法)
・他

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